Superseded
Standard
Historical
DIN 50454-1:1991-11
Testing of materials for semiconductor technology; determination of the dislocations etch pits density in monocrystals of III-V-compound semiconductors; galliumarsenide
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Summary
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der Versetzungsätzgrubendichte in Einkristallen von III-V-Verbindungshalbleitern; Galliumarsenid
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 11/01/1991 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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