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DIN 50454-1:2000-07
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of dislocations in monocrystals of III-V-compound semi-conductors - Part 1: Gallium arsenide
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Summary
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Versetzungsätzgrubendichte in Einkristallen von III-V-Verbindungshalbleitern - Teil 1: Galliumarsenid
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 07/01/2000 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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