DIN EN 15991:2009-09
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DIN EN 15991:2009-09

Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of non-oxidic ceramic raw and basic materials by inductively coupled plasma optical emission spectroscopy (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV); German version prEN 15991:2009
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Summary

Prüfung keramischer Roh- und Werkstoffe - Direkte Bestimmung der Massenanteile von Spurenverunreinigungen in pulver- und kornförmigem Siliciumcarbid mittels optischer Emissionsspektroskopie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV); Deutsche Fassung prEN 15991:2009

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 09/01/2009
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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DIN EN 15991:2025-11

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Testing of ceramic raw materials and ceramic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry with electrothermal vaporisation (ETV-ICP-OES); German version EN 15991:2025
01/11/2025
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Testing of ceramic raw materials and ceramic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry with electrothermal vaporisation (ETV-ICP-OES); German and English version prEN 15991:2024
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DIN EN 15991:2016-02

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DIN EN 15991:2011-04

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Essais sur matériaux céramiques et basiques - Détermination directe des fractions massiques d'impuretés dans les poudres et les granulés de carbure de silicium par spectroscopie d'émission optique à plasma induit par haute fréquence (ICP OES) avec vaporisation électrothermique (ETV); Version allemande EN 15991:2011
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DIN EN 15991:2009-09

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Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of non-oxidic ceramic raw and basic materials by inductively coupled plasma optical emission spectroscopy (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV); German version prEN 15991:2009
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