DIN EN 60749:2000-02
Superseded Standard
Historical

DIN EN 60749:2000-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996); German version EN 60749:1999.
Most recent standard

Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996); Deutsche Fassung EN 60749:1999 / Achtung: Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60749 (2001-09) und DIN EN 60749 (2002-09), bis 2003-09-01 beachten.

Notes

A transition period, as set out in DIN EN 60749 (2001-09) and DIN EN 60749 (2002-09), exists until 2003-09-01.

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 02/01/2000
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
No products.

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