DIN EN 60749:2002-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); German version EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001.

Preview

Description

Features

Life cycle

Historical

Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001); Deutsche Fassung EN 60749:1999 + A1:2000 + A2:2001 / Achtung: Daneben gelten DIN EN 60749 (2001-09) und DIN EN 60749 (2000-02) noch bis 2003-09-01.*Übergangsfrist, festgelegt für besondere Bedingungen durch DIN EN 60749-1 (2003-12), DIN EN 60749-2 (2003-04), DIN EN 60749-3 (2003-04), DIN EN 60749-4 (2003-04), DIN EN 60749-5 (2003-09), DIN EN 60749-6 (2003-04), DIN EN 60749-7 (2003-04), DIN EN 60749-8 (2003-12), DIN EN 60749-9 (2003-04), DIN EN 60749-10 (2003-04), DIN EN 60749-11 (2003-04), DIN EN 60749-12 (2003-04), DIN EN 60749-13 (2003-04), DIN EN 60749-14 (2004-07), DIN EN 60749-15 (2003-10), DIN EN 60749-19 (2003-10), DIN EN 60749-20 (2003-12), DIN EN 60749-21 (2005-06), DIN EN 60749-22 (2003-12), DIN EN 60749-25 (2004-04), DIN EN 60749-31 (2003-12), DIN EN 60749-32 (2003-12) und DIN EN 60749-36 (2003-12), bis 2006-04-01 beachten.

Notes

DIN EN 60749 (2001-09) and DIN EN 60749 (2000-02) remain valid alongside this standard until 2003-09-01.*A transition period, as set out in DIN EN 60749-1 (2003-12), DIN EN 60749-2 (2003-04), DIN EN 60749-3 (2003-04), DIN EN 60749-4 (2003-04), DIN EN 60749-5 (2003-09), DIN EN 60749-6 (2003-04), DIN EN 60749-7 (2003-04), DIN EN 60749-8 (2003-12), DIN EN 60749-9 (2003-04), DIN EN 60749-10 (2003-04), DIN EN 60749-11 (2003-04), DIN EN 60749-12 (2003-04), DIN EN 60749-13 (2003-04), DIN EN 60749-14 (2004-07), DIN EN 60749-15 (2003-10), DIN EN 60749-19 (2003-10), DIN EN 60749-20 (2003-12), DIN EN 60749-21 (2005-06), DIN EN 60749-22 (2003-12), DIN EN 60749-25 (2004-04), DIN EN 60749-31 (2003-12), DIN EN 60749-32 (2003-12) and DIN EN 60749-36 (2003-12), exists under certain conditions until 2006-04-01.