Superseded Draft standard
Historical

DIN EN 60749-27:2002-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Machine model (MM) (IEC 47/1624/CDV:2002); German version prEN 60749-27:2002

Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Machine Model (MM) (IEC 47/1624/CDV:2002); Deutsche Fassung prEN 60749-27:2002

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 09/01/2002
Page Count 8
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Weight (in grams) ---
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