DIN EN 60749-27:2005-05
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Historical

DIN EN 60749-27:2005-05

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 47/1804/CDV:2005); German version prEN 60749-27:2005
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Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine-Model (MM) (IEC 47/1804/CDV:2005); Deutsche Fassung prEN 60749-27:2005

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 05/01/2005
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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