DIN EN IEC 63287-2:2022-06
Superseded Draft standard
Historical

DIN EN IEC 63287-2:2022-06

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile (IEC 47/2718/CDV:2021); German and English version prEN IEC 63287-2:2021
Most recent standard

Summary

Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils (IEC 47/2718/CDV:2021); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63287-2:2021

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 06/01/2022
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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