Superseded
Standard
Historical
NF EN 60749-17, C96-022-17 (08/2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17 : neutron irradiation - Dispositifs à semiconducteurs
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Summary
L'essai d'irradiation aux neutrons est réalisé pour déterminer la sensibilité à la dégradation des dispositifs à semiconducteurs placés dans un environnement de neutrons. Les essais décrits dans ce document sont applicables aux circuits intégrés et aux dispositifs à semiconducteurs. Cet essai est destiné aux applications des domaines militaire et spatial. Il s'agit d'un essai destructif.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 08/01/2003 |
| Release Date | 08/01/2003 |
| Cancellation Date | 07/01/2022 |
| Page Count | 8 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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