NF EN IEC 60749-17, C96-022-17 (05/2019)

Le présent document a pour objet de décrire un essai d'irradiation aux neutrons qui est réalisé pour déterminer la sensibilité des dispositifs à semiconducteurs à la dégradation par perte d'énergie non ionisante (NIEL, Non-Ionizing Energy Loss) . L'essai décrit dans le présent document s'applique aux circuits intégrés et aux dispositifs discrets à semiconducteurs, et est destiné aux applications des domaines militaire et aérospatial. Il s'agit d'un essai destructif.