NF EN 60749-18, C96-022-18 (05/2003)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18 : ionizing radiation (total dose) - Dispositifs à semiconducteurs

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Summary

Le présent document présente une procédure d'essai permettant de définir les exigences des essais des circuits intégrés à semiconducteurs sous boîtier et des dispositifs discrets à semiconducteurs concernant les effets des rayonnements ionisants (dose totale) provenant d'une source de rayons gamma au cobalt-60 (6OCo).

Technical characteristics

Publisher	Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date	05/01/2003
Release Date	05/01/2003
Cancellation Date	07/01/2022
Page Count	16
Themes	Electrotechnologies
EAN	---
ISBN	---
Weight (in grams)	---