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NF EN IEC 60749-18, C96-022-18 (05/2019)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18 : Ionizing radiation (total dose)
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Summary
Le présent document présente une procédure d'essai permettant de définir les exigences pour soumettre à essai des circuits intégrés à semiconducteurs sous boîtier et des dispositifs discrets à semiconducteurs, concernant les effets des rayonnements ionisants (dose totale) provenant d'une source de rayons gamma au cobalt-60 (60Co) . D'autres sources de rayonnements appropriées peuvent être utilisées.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 05/01/2019 |
| Release Date | 05/01/2019 |
| Page Count | 28 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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