Superseded Standard
Historical

NF EN 60749-37, C96-022-37 (07/2008)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37 : board level drop test method using an accelerometer - Dispositifs à semiconducteurs

Summary

Le présent document fournit une méthode d'essai destinée à évaluer et comparer la performance de chute des composants à montage en surface dans des applications de produits électroniques portatifs dans un environnement d'essai accéléré, où une flexion excessive d'une carte de circuit imprimé provoque une défaillance de produit. Le but est de normaliser la carte d'essai et la méthodologie d'essai pour fournir une évaluation reproductible de la performance d'essai de chute des composants à montage en surface, en reproduisant les mêmes modes de défaillances que ceux observés normalement au cours d'un essai au niveau du produit.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 07/01/2008
Release Date 07/01/2008
Cancellation Date 12/01/2025
Page Count 25
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
No products.