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NF EN IEC 60749-37, C96-022-37 (11/2022)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 37 : Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'un accéléromètre
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Summary
Le présent document fournit une méthode d'essai destinée à évaluer et comparer la performance de chute des composants électroniques à montage en surface dans des applications de produits électroniques portatifs dans un environnement d'essai accéléré, où une flexion excessive d'une carte de circuit imprimé provoque une défaillance de produit.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 11/01/2022 |
| Release Date | 11/01/2022 |
| Page Count | 25 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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