Superseded
Standard
Historical
NF EN 60749-5, C96-022-5 (06/2003)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation
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Summary
Le présent document décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l'humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 06/01/2003 |
| Release Date | 06/01/2003 |
| Cancellation Date | 09/01/2024 |
| Page Count | 10 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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