Superseded
Standard
Historical
NF EN 60749-5, C96-022-5 (07/2017)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5 : steady-state temperature humidity bias life test
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Summary
Le présent document décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l'humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d'essai est considérée comme destructive.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 07/01/2017 |
| Release Date | 07/01/2017 |
| Page Count | 14 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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