Superseded
Standard
Historical
NF ISO 15632, X21-008 (12/2006)
Microbeam analysis - Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors - Analyse par microfaisceaux
Summary
L'ISO 15632:2002 définit les paramètres les plus importants qui caractérisent un spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS) consistant en un détecteur semi-conducteur, un préamplificateur et une unité de traitement des signaux en tant que parties essentielles. Elle s'applique uniquement aux spectromètres ayant des détecteurs semi-conducteurs fonctionnant selon le principe de l'ionisation à l'état solide. Elle définit les exigences minimales pour de tels spectromètres reliés à un microanalyseur à sonde électronique (EPMA) ou à un microscope électronique à balayage (MEB). La réalisation de l'analyse se situe en dehors de la portée de l'ISO 15632:2002.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 12/01/2006 |
| Release Date | 12/01/2006 |
| Cancellation Date | 12/28/2012 |
| Page Count | 14 |
| Themes | Industry |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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