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NF ISO 15632, X21-008 (12/2012)
Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive ray spectrometers for use in electron probe microanalysis - Analyse par microfaisceaux
Summary
La présente Norme internationale définit les paramètres les plus importants qui caractérisent un spectromètre X à sélection d'énergie consistant en un détecteur semi-conducteur, un préamplificateur et une unité de traitement des signaux en tant que parties essentielles. La présente Norme internationale est applicable uniquement aux spectromètres ayant des détecteurs semi-conducteurs fonctionnant selon le principe de l'ionisation à l'état solide. La présente Norme internationale spécifie les exigences minimales, ainsi que la façon appropriée de contrôler les paramètres de performance de l'appareil, pour de tels spectromètres reliés à un microscope électronique à balayage (MEB) ou à une microsonde électronique (EPMA). Le mode opératoire utilisé pour l'analyse effective est décrit dans l'ISO 22309[2] et dans l'ASTM E1508[3] et ne relève pas du domaine d'application de la présente Norme internationale.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 12/01/2012 |
| Release Date | 12/01/2012 |
| Cancellation Date | 02/01/2022 |
| Page Count | 18 |
| Themes | Industry |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |