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NF ISO 15632, X21-008 (12/2012)

Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive ray spectrometers for use in electron probe microanalysis - Analyse par microfaisceaux

Summary

La présente Norme internationale définit les paramètres les plus importants qui caractérisent un spectromètre X à sélection d'énergie consistant en un détecteur semi-conducteur, un préamplificateur et une unité de traitement des signaux en tant que parties essentielles. La présente Norme internationale est applicable uniquement aux spectromètres ayant des détecteurs semi-conducteurs fonctionnant selon le principe de l'ionisation à l'état solide. La présente Norme internationale spécifie les exigences minimales, ainsi que la façon appropriée de contrôler les paramètres de performance de l'appareil, pour de tels spectromètres reliés à un microscope électronique à balayage (MEB) ou à une microsonde électronique (EPMA). Le mode opératoire utilisé pour l'analyse effective est décrit dans l'ISO 22309[2] et dans l'ASTM E1508[3] et ne relève pas du domaine d'application de la présente Norme internationale.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 12/01/2012
Release Date 12/01/2012
Cancellation Date 02/01/2022
Page Count 18
Themes Industry
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Weight (in grams) ---