Superseded Standard
Historical

VDI/VDE 2655 Blatt 1.1:2005-04

Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement

Summary

Optische Messtechnik an Mikrotopographien - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung

Technical characteristics

Publisher Verein Deutscher Ingenieure e.V. (VDI)
Publication Date 04/01/2005
Cancellation Date 03/01/2008
Page Count 38
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Weight (in grams) ---
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