DIN 50441-2:1982-04
Superseded Standard
Historical

DIN 50441-2:1982-04

Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; testing of edge rounding
Most recent standard

Summary

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben; Prüfung der Kantenverrundung

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 04/01/1982
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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