DIN 50441-2:1996-03
Superseded Draft standard
Historical

DIN 50441-2:1996-03

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 2: Testing of edge profile
Most recent standard

Summary

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben - Teil 2: Prüfung des Kantenprofils

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 03/01/1996
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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