DIN EN 60749-5:2002-06
Superseded Draft standard
Historical

DIN EN 60749-5:2002-06

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test (IEC 47/1600/CDV:2002); German version prEN 60749-5:2002
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Summary

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter Vorspannung (IEC 47/1600/CDV:2002); Deutsche Fassung prEN 60749-5:2002

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 06/01/2002
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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