Connecteurs pour équipements électriques et électroniques - Partie 5 : Spécification particulière pour les connecteurs circulaires M8 et M12 à 2 pôles, à fiches et embases écrantées ou non écrantées - Informations d'accouplement mécanique, affectation des broches et exigences supplémentaires pour le type 5
€138.00
Applications ferroviaires - Matériel roulant - Connecteurs électriques - Exigences et méthodes d'essaiAutomatic translation from French : Railway applications - Rolling stock - Electrical connectors - Requirements and test methods
€128.67
Connecteurs pour équipements électriques et électroniques - Essais et mesures - Partie 99-003 : programmes d'essais d'endurance - Essai 99c : programme d'essai des connecteurs à une seule paire symétrique lors de la séparation (désaccouplement) sous charge électriqueAutomatic translation from French : Connectors for electrical and electronic equipment - Tests and measurements - Part 99-003: endurance test programs - Test 99c: test program for symmetrical single pair connectors during separation (uncoupling) under electrical load
€95.67
Connecteurs pour équipements électriques et électroniques - Essais et mesures - Partie 28-100: Essais d'intégrité des signaux jusqu'à 2 000 MHz - Essais 28a à 28gAutomatic translation from French : Connectors for electrical and electronic equipment - Tests and measurements - Part 28-100: Signal integrity tests up to 2000 MHz - Tests 28a to 28g
€166.33
Connecteurs pour équipements électroniques - Exigences de produit - Partie 2-101 : connecteurs circulaires - Spécification particulière pour les connecteurs M12 à visAutomatic translation from French : Connectors for electronic equipment - Product requirements - Part 2-101: circular connectors - Particular specification for M12 screw connectors
€198.33
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates (IEC 47/2224/CD:2015)
€84.58
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-1: Current-carrying capacity tests -Test 5a: Temperature rise (IEC 60512-5-1:2002); German version EN 60512-5-1:2002, Corrigendum to DIN EN 60512-5-1:2003-01
€0.00
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 27: Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT) (IEC 47F/216/CD:2015)
€91.03
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods (IEC 62047-16:2015); German version EN 62047-16:2015
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (IEC 62047-17:2015); German version EN 62047-17:2015
€111.40
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass (IEC 62047-15:2015); German version EN 62047-15:2015
Electrical connectors and plug-and-socket devices - Connectors, 2 poles - Part 3: Dimensions, mass, detail standard; Text in German and English.
€88.41
Electromechanical switches for use in electrical and electronic equipment - Part 1: Generic specification (IEC 23J/437/CD:2017); Text in German and English
€288.60
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature (IEC 47F/243/CD:2016)
€69.91
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film (IEC 47F/241/CD:2016)
€105.42
