Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20-1:2009); German version EN 60749-20-1:2009
€128.22
Fixed resistors for use in electronic equipment - Part 2: Sectional specification - Fixed low-power non-wirewound resistors (IEC 40/2013/CD:2009)
€140.00
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (IEC 60749-20:2008); German version EN 60749-20:2009.
€111.40
Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010); German version EN 62415:2010
€77.20
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (IEC 62416:2010); German version EN 62416:2010
Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010); German version EN 62418:2010
€98.32
Semiconducteurs - Diodes hyperfréquences - Diodes schottky - Prescriptions générales.
€175.33
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Diodes régulatrices de tension et de diodes de tension référence - Spécification particulière cadre (changement de statut de NF C 86-815, décembre 1975, ENR.).
€32.33
Additif 1 à la norme NF C 86-815 de décembre 1975 (homologuée en juin 1981)
Additif 2 à la norme NF C 86-815 de décembre 1975 (homologuée en juin 1981)
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Diodes à capacité variable - Spécification particulière cadre (changement de statut de NF C 86-816, juin 1976, ENR.).
€88.33
Additif 1 à la norme NF C 86-816 de juin 1976 (homologuée en juin 1981)
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Transistors bipolaires à température ambiante spécifiée pour amplification en basse et haute fréquences - Spécification particulière cadre (changement de statut de NF C 86-612, juin 1976, ENR.).
€74.00
Composants électroniques - Système CENELEC d'assurance de la qualité - Transistors bipolaires à température de boîtier spécifiée pour amplification en basse fréquence - Spécification particulière cadre (changement de statut de NF C 86-613, juin 1976, ENR.).
Additif 1 à la norme NF C 86-613 de juin 1981
