Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003); German version EN 60749-25:2003.
€77.20
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003 + A1:2010); German version EN 60749-19:2003 + A1:2010.
€56.17
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) (IEC 60749-32:2002 + Cor. :2003 + A1:2010); German version EN 60749-32:2003 + Cor. :2003 + A1:2010.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS (IEC 62047-4:2008); German version EN 62047-4:2010
€105.42
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : examen visuel externe
€41.67
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4 : essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)
€56.33
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6 : stockage à haute température
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7 : mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9 : permanence du marquage
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12 : vibrations, fréquences variables
Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques
€67.00
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 15 : résistance à la température de soudage pour dispositifs par trous traversants
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : atmosphère saline
€108.50
