Dispositifs à semiconducteurs - Règles pour la gestion de la fin de vie des composants et pour leur remplacement (obsolescence des composants électroniques) - Prescriptions provisoires.
€30.50
Vocabulaire Électrotechnique International - Partie 521 : dispositifs à semiconducteurs et circuits intégrés
€188.67
Dispositifs à semiconducteurs - Règles pour la gestion de la fin de vie des composants et pour leur remplacement (obsolescence des composants électroniques). Prescriptions provisoires.
€34.00
Dispositifs à semi-conducteurs - Procédures pour la certification d'une ligne de fabrication et la gestion de la qualité et guide pour l'obtention de la certification QML - Prescriptions provisoires.
€106.33
Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques
€131.50
Composants électroniques - Dispositifs à semiconducteurs - Onzième partie : spécification intermédiaire pour les dispositifs discrets
€86.50
Composants électroniques - Dispositifs à semiconducteurs - Dixième partie : spécification générique pour les dispositifs discrets et les circuits intégrés
€101.00
Composants électroniques - Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques
€96.00
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance; Unbiased HAST (IEC 47/1646/CD:2002)
€48.79
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002); German version EN 60749-11:2002.
€56.17
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002); German version EN 60749-2:2002.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002); German version EN 60749-3:2002.
€34.30
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002); German version EN 60749-6:2003.
€41.78
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002); German version EN 60749-9:2002.
