Normadoc

DIN EN 62047-4:2011-03

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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS (IEC 62047-4:2008); German version EN 62047-4:2010

€105.42

NF EN 60749-3, C96-022-3 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : examen visuel externe

€41.67

NF EN 60749-4, C96-022-4 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4 : essai continu fortement accéléré de contrainte de chaleur humide (HAST)

€56.33

NF EN 60749-6, C96-022-6 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6 : stockage à haute température

€41.67

NF EN 60749-7, C96-022-7 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7 : mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels

€56.33

NF EN 60749-9, C96-022-9 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9 : permanence du marquage

€56.33

NF EN 60749-12, C96-022-12 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 12 : vibrations, fréquences variables

€41.67

NF EN 60749/A1, C96-022/A1 (02/2002)

Withdrawn Most Recent

Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

€67.00

NF EN 60749-15, C96-022-15 (08/2003)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 15 : résistance à la température de soudage pour dispositifs par trous traversants

€56.33

NF EN 60749-5, C96-022-5 (06/2003)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5 : essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

€56.33

NF EN 60749-13, C96-022-13 (12/2002)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : atmosphère saline

€56.33

NF EN 60749/A2, C96-022/A2 (06/2002)

Withdrawn Most Recent

Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

€108.50

NF EN 60749-26, C96-022-26 (12/2006)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26 : essai de la sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM)

€91.00

NF EN 60749-29, C96-022-29 (04/2004)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 29 : essai de verrouillage

€91.00

NF EN 60749-21, C96-022-21 (12/2005)

Superseded Historical

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 21 : brasabilité

€119.00

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31.080.10

31.080.20

31.080.30

31.080.99

DIN EN 62047-4:2011-03

NF EN 60749-3, C96-022-3 (12/2002)

NF EN 60749-4, C96-022-4 (12/2002)

NF EN 60749-6, C96-022-6 (12/2002)

NF EN 60749-7, C96-022-7 (12/2002)

NF EN 60749-9, C96-022-9 (12/2002)

NF EN 60749-12, C96-022-12 (12/2002)

NF EN 60749/A1, C96-022/A1 (02/2002)

NF EN 60749-15, C96-022-15 (08/2003)

NF EN 60749-5, C96-022-5 (06/2003)

NF EN 60749-13, C96-022-13 (12/2002)

NF EN 60749/A2, C96-022/A2 (06/2002)

NF EN 60749-26, C96-022-26 (12/2006)

NF EN 60749-29, C96-022-29 (04/2004)

NF EN 60749-21, C96-022-21 (12/2005)